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簡要描述：美能達CS-2000A分光輻射亮度計可通過計算機控制進行測量，并將數(shù)據(jù)以多種圖表或列表形式顯示。也可以將測量數(shù)據(jù)復制粘貼或者導出到其他軟件工作表中。CS-S10w提供了大量的數(shù)據(jù)管理、分析、評估方式，可幫助您更簡便、高效地進行研發(fā)或者品質(zhì)控制工作。
產(chǎn)品型號：cs-2000a廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2024-09-11訪 問 量：1260美能達CS-2000A分光輻射亮度計產(chǎn)品介紹
測量低亮度的能力達到高水平
作為一款色彩分光輻射亮度計
?100,000 : 1的對比度測量現(xiàn)在已成為可能！
當測量峰值達300 cd/m2
隨著高清電視時代的全面開始，為了更好地還原明銳亮麗、高分辨率的圖像，一些更高質(zhì)量的支持全高清的顯示設(shè)備的發(fā)展也日益加速。目前較較較較先進的技術(shù)可達到亮度層次100,000:1的對比度，畫面會給您更真實的感受。由于需要有儀器能夠測量到更低的亮度，因此在重現(xiàn)一些“比黑色更黑的”圖像時，技術(shù)上遇到了瓶頸。
另外，一些其他類型的發(fā)光元件發(fā)展迅速，如有機電致發(fā)光（Organic EL）與傳統(tǒng)的LCD和PDP顯示一樣，都需要更高精度的光譜輻射曲線分析。CS-2000就是一款具有以上測量功能的分光輻射亮度計，它的低亮度測量達到了高水平，低達0.003 cd/m2，高測量對比度可達100,000:1。
測量實例：測量一塊研發(fā)階段時的有機電致發(fā)光（Organic EL）平板
在低亮度為0.003 cd/m2時，儀器也能保持高精度測量
柯尼卡美能達將較較較較先進的光學設(shè)計技術(shù)與信號處理技術(shù)充分結(jié)合，為在低亮度0.003 cd/m2下色度和亮度測量的高精度提供了保障。
低亮度測量：從0.003 cd/m2起
測量精度：±2%（亮度）
在低亮度時也能保證快速測量
儀器的*設(shè)計充分消除了機械及電路噪聲，使CS-2000在低亮度時也能進行重復性很好的迅速測量。
1 cd/m2時的測量時間：約5秒（快速模式），柯尼卡美能達以前的型號CS-1000：約123秒
低偏振誤差
由于使用反射型衍射光柵引起的偏振誤差被減小到只有2%（測量角度：1°）。這使那些使用偏振片的顯示設(shè)備如LCD的測量數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性得到了保障。
僅5nm的半波寬
儀器僅5nm的半波寬，滿足了對于色度測量的要求（JIS Z 8724-1997，CIE 122-1996），保證了在整個可見光波長范圍內(nèi)色度的精確測量。
可選擇的測量角度，可測量非常小的面積
CS-2000可根據(jù)您不同的應(yīng)用對象，選擇不同的光學測量角度。
測量角度選擇：1°，0.2°，0.1°
小測量面積：Ø0.1 mm（使用近攝鏡時）
實用的設(shè)計
1、儀器的操作溫度范圍是5℃～35℃，與實際工作環(huán)境相近，保證儀器操作時的可靠性。
2、儀器僅僅需要在開機后預(yù)熱30秒，即可進行正常測量。（測量角度：1°；目標亮度：5 cd/m2以上；23℃時）
即使是有周期性發(fā)光特性的光源，也可得到穩(wěn)定的測量數(shù)據(jù)
1、內(nèi)同步測量：通過輸入同步頻率進行測量
2、外同步測量：通過外接輸入垂直同步信號進行測量
3、多重積分模式測量：減少測量非同步時采集信號的變化或測量那些發(fā)光特性周期不規(guī)則的光源
簡潔的操作面板和彩色LCD顯示屏使得操作更簡便
彩色LCD顯示屏和操作面板設(shè)置在儀器背面，簡潔的按鈕排列使您可以更直觀地調(diào)用想要的功能。
CS-2000特點
可選擇合適的測量角度，以滿足不同的被測對象。
1°測量角適用于：傳統(tǒng)的測量對象如中、大尺寸的顯示器。
*LCD，PDP或EL平板顯示
*移動電話或者數(shù)碼相機的LCD面板
*各類航空用雷達或儀器設(shè)備的顯示面板
*戶外大屏幕顯示設(shè)備
0.2°測量角適用于：小面積光源如LEDs
*車載音響系統(tǒng)
*汽車顯示面板
*熒光燈、背光燈管等一些光源
0.1°測量角適用于：極小的發(fā)光源或遠距離光源
*PDP或LCD的像素點
*冷陰極管
*汽車剎車燈
*交通信號燈
測量小面積時使用的近攝鏡（可選配件）
儀器配合可選的近攝鏡一起使用，可以測量的小面積為Φ0.1mm，不僅可以測量常規(guī)尺寸的顯示設(shè)備，也可以測量一些小面積的光源。
測量距離和測量面積
測量距離（單位：mm） | 測量角度 | |||
|---|---|---|---|---|
1° | 0.2° | 0.1° | ||
當使用近攝鏡時 | 55.0 | φ1.00 | φ0.20 | φ0.10 |
70.9 | φ1.39 | φ0.28 | φ0.14 | |
350 | φ5.00 | φ1.00 | φ0.50 | |
500 | φ7.78 | φ1.56 | φ0.78 | |
1,000 | φ16.66 | φ3.33 | φ1.67 | |
2,000 | φ34.18 | φ6.84 | φ3.42 | |
*測量距離是從物鏡或近攝鏡金屬部分末端算起。
重復性對比實驗
1、在目標亮度為0.1 cd/m2時，與柯尼卡美能達以前的型號CS-1000做比較
2、y軸代表了：假設(shè)CS-2000測量的平均值為1時，CS-1000測量值的對數(shù)
亮度(Lv)
色度(x)
色度(y)
儀器通過在設(shè)計上充分消除了機械及電路噪聲，達到了更好的重復性。
被測亮度與測量時間（單位：秒）
亮度(cd/m2) | 一般模式 | 快速模式 |
|---|---|---|
0.003 | 243 | 35 |
0.01 | 243 | 35 |
0.1 | 155 | 27 |
1 | 19 | 5 |
10 | 4 | 4 |
300 | 3.7 | 3.7 |
測量對象：標準光源A
*所有的時間僅代表接近值。
測量實例
PDP
LCD
Organic EL
技術(shù)解析
CS-2000的核心，光學傳感器，通過精確的分析設(shè)計，消除了其成分中的熱量對測量數(shù)據(jù)的疊加影響。 |
|
美能達CS-2000A分光輻射亮度計規(guī)格
型號 | CS-2000A | ||
波長范圍 | 380 ～ 780 nm | ||
波長分辨率 | 0.9 nm/pixel | ||
顯示波長寬度 | 1.0 nm | ||
波長精度 | ±0.3 nm（校準波長：435.8 nm，546.1 nm，643.8 nm，Hg-Cd燈） | ||
光譜波寬 | 5 nm以下（半波寬） | ||
測量角度 （可選） | 1° | 0.2° | 0.1° |
測量亮度范圍（標準光源A） | 0.0005~5,000cd/m2 | 0.0125~125,000cd/m2 | 0.05~500,000cd/m2 |
最小測量區(qū)域 | Φ5 mm（當使用近攝鏡頭時為Φ1 mm） | Φ1 mm（當使用近攝鏡頭時為Φ0.2 mm） | Φ0.5 mm（當使用近攝鏡頭時為Φ0.1 mm） |
最小測量距離 | 350 mm（當使用近攝鏡頭時為55 mm） | ||
最小光譜輻射顯示 | 1.0×10-9 W/sr, m2, nm | ||
精度：亮度（標準光源A）*1 | ±2% | ||
精度：色度（標準光源A）*1 | x : ±0.0015 (0.05 cd/m2 以上) | x : ±0.0015 (1.25 cd/m2 以上) | x : ±0.0015 (5 cd/m2 以上) |
重復性：亮度（2σ）（標準光源A）*2 | 0.15% (0.05 cd/m2 以上) | 0.15% (1.25 cd/m2 以上) | 0.15% (5 cd/m2以上) |
重復性：色度（2σ）（標準光源A）*2 | x,y: 0.0004 (0.2 cd/m2以上) | x,y: 0.0004 (5 cd/m2 以上) | x,y : 0.0004 (20 cd/m2 以上) |
偏振誤差 | 1°：2%以下（400 ～ 780 nm）；0.1°和0.2°：3%以下（400 ～ 780 nm） | ||
積分時間 | 快速：0.005～16 秒；普通：0.005～120 秒 | ||
測量時間 | 最小1秒（手動模式）至最大243秒（普通模式） | ||
色空間模式 | Lv x y，Lv u' v'，Lv TΔuv，XYZ，光譜曲線，特征波長，激發(fā)純度，暗視覺亮度（使用CS-S10w專業(yè)軟件） | ||
接口 | USB 1.1 | ||
操作溫度/ | 5～35℃，相對濕度80%以下，無凝露 | ||
存儲溫度 | 0～30℃，相對濕度80%以下，無凝露 | ||
電源 | 電源適配器（100-240～，50/60 Hz） | ||
功率 | 約20 W | ||
尺寸 | 158（寬） × 200（高） × 300（長） mm （主機），Φ70 × 95mm（鏡頭） | ||
重量 | 6.2kg | ||
數(shù)據(jù)處理軟件
CS-S10w 專業(yè)版（標準配件）
使用該軟件，CS-2000A可通過計算機控制進行測量，并將數(shù)據(jù)以多種圖表或列表形式顯示。也可以將測量數(shù)據(jù)復制粘貼或者導出到其他軟件工作表中。CS-S10w提供了大量的數(shù)據(jù)管理、分析、評估方式，可幫助您更簡便、高效地進行研發(fā)或者品質(zhì)控制工作。
